Iqbal M, Firdaus M, Fauzan MA, Novayanti M, Sujana FS, Maulana MR, et al. Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. JAEE [Internet]. 2021 Dec. 30 [cited 2025 Jun. 23];5(2):69-74. Available from: https://jurnal.polibatam.ac.id/index.php/JAEE/article/view/3746