Iqbal M, Firdaus M, Fauzan M, Novayanti M, Sujana F, Maulana M, Maulidiah H, Puspita WRP, Mustanir M, Jefiza A, Budiana B, Asaad N. Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. JAEE [Internet]. 30Dec.2021 [cited 18Apr.2024];5(2):69-4. Available from: https://jurnal.polibatam.ac.id/index.php/JAEE/article/view/3746