Prebianto N, Asaad N, Ria R. Desain Sistem Functional Test RFID Chips Array untuk Proses Manufaktur Smart Card pada TFME Politeknik Negeri Batam. JAEE [Internet]. 31Dec.2020 [cited 25Apr.2024];4(2):44-8. Available from: https://jurnal.polibatam.ac.id/index.php/JAEE/article/view/2743