Iqbal, M., M. Firdaus, M. Fauzan, M. Novayanti, F. Sujana, M. Maulana, H. Maulidiah, W. R. P. Puspita, M. Mustanir, A. Jefiza, B. Budiana, and N. Asaad. “Penggunaan SEM Dan Image-J Dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur”. Journal of Applied Electrical Engineering, Vol. 5, no. 2, Dec. 2021, pp. 69-74, doi:10.30871/jaee.v5i2.3746.