IQBAL, M.; FIRDAUS, M.; FAUZAN, M.; NOVAYANTI, M.; SUJANA, F.; MAULANA, M.; MAULIDIAH, H.; PUSPITA, W. R. P.; MUSTANIR, M.; JEFIZA, A.; BUDIANA, B.; ASAAD, N. Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. Journal of Applied Electrical Engineering, v. 5, n. 2, p. 69-74, 30 dez. 2021.