Iqbal, M., Firdaus, M., Fauzan, M., Novayanti, M., Sujana, F., Maulana, M., Maulidiah, H., Puspita, W. R. P., Mustanir, M., Jefiza, A., Budiana, B., & Asaad, N. (2021). Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. Journal of Applied Electrical Engineering, 5(2), 69-74. https://doi.org/10.30871/jaee.v5i2.3746