Iqbal, M., Firdaus, M., Fauzan, M. A., Novayanti, M., Sujana, F. S., Maulana, M. R., … Asaad, N. S. (2021). Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. Journal of Applied Electrical Engineering, 5(2), 69–74. https://doi.org/10.30871/jaee.v5i2.3746