(1)
Iqbal, M.; Firdaus, M.; Fauzan, M.; Novayanti, M.; Sujana, F.; Maulana, M.; Maulidiah, H.; Puspita, W. R. P.; Mustanir, M.; Jefiza, A.; Budiana, B.; Asaad, N. Penggunaan SEM Dan Image-J Dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. JAEE 2021, 5, 69-74.