(1)
Iqbal, M.; Firdaus, M.; Fauzan, M. A.; Novayanti, M.; Sujana, F. S.; Maulana, M. R.; Maulidiah, H. M.; Puspita, W. R. P. R.; Mustanir, M.; Jefiza, A. Penggunaan SEM Dan Image-J Dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur. JAEE 2021, 5, 69-74.